光学設計解析ソフトウェア「CODE V」最新バージョン10.5リリースのお知らせ

PR TIMES / 2012年10月17日 16時47分

~組み立て時の性能向上をターゲットに最適化と公差解析を強化~

サイバネットシステム株式会社(本社:東京都、代表取締役社長:田中 邦明、以下「サイバネット」)は、Synopsys, Inc.(本社:米国 カリフォルニア州、以下「Synopsys社」)が開発し、サイバネットが販売・サポートする光学設計解析ソフトウェア「CODE V(コード ファイブ)」の最新バージョン「CODE V 10.5」の販売を、2012年10月17日から開始することをお知らせいたします。

CODE Vは、光学設計(レンズ設計)・評価解析・製造支援などの機能を搭載しており、光学製品開発業務を総合的にサポートする光学設計解析ソフトウェアです。対象となるアプリケーションは、撮像機器(カメラレンズ、ビデオレンズなど)、通信機器、医療機器、産業機器、航空・宇宙関連機器などの多岐にわたります。

CODE V 10.5では、レンズ組み立て時の光学性能向上をターゲットとして、最適化や公差解析の機能強化および新機能追加が行われました。これらの機能を利用することで、製造誤差感度を低く抑えた高性能な光学系の設計が実現できます。また、イレギュラリティ形状誤差(※1)モデルが改良され、モンテカルロ公差解析で性能予測が可能となりました。

ポイント:
・誤差感度や組み立て性能を最適化でダイレクトにコントロール
・イレギュラリティ形状誤差モデルを改良、モンテカルロ公差解析で使用可能

今後も継続的に皆様の業務に役立つ機能の追加や改良、および開発を行ってまいります。

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最適化と公差解析(TOR)との連携
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■誤差感度や組み立て性能を最適化でダイレクトにコントロール
CODE V 10.5では、新たにSABコマンドが追加され、組み立て時のRMS波面収差をダイレクトに考慮した最適化が可能となりました。本コマンドは、組み立て誤差感度のコントロールを目的として開発されました。SABコマンドを使用して最適化を実行することで、製造誤差が組み立て後の光学性能へ及ぼす影響を低減できます。
公差解析を最適化プロセスへ組み込むことにより、各エレメントの持つ寸法公差や組み立て公差、組み立て後の調整範囲を考慮する一方で、要求性能を満たし、かつ製造コストを最小化するという実践的な光学設計が行えます。
これまでにも、製造誤差感度の低い光学系設計法、例えばマクロ関数を利用した連携方法やグローバルシンセシス(R)(大域的最適化アルゴリズム)とズームポジションを利用するなどの手法はありましたが、SABコマンドを利用しウェイトを調整することで、よりダイレクトな敏感度のコントロールが可能となりました。

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