国内初!「TOF-SIMS分析」に新機能「GCIB」サービススタート ~有機ELパネル積層膜の層構造解析が可能に~

@Press / 2012年6月20日 11時30分

受託分析を行うMST一般財団法人材料科学技術振興財団(本部:東京都世田谷区、理事長:沖村 憲樹、以下 MST)は、2012年6月から材料表面の構造解析を行う「TOF-SIMS分析」において、新機能「GCIB(ガスクラスターイオンビーム)」を搭載しサービスをスタートしましたので下記のとおりお知らせいたします。


■背景
以前よりご好評いただいております「TOF-SIMS分析サービス」は、エレクトロニクス製品や医薬関連企業の研究開発部門を対象に、分析装置「TOF-SIMS」を用いて製品材料の受託分析を行い、材料表面の構造解析を行うことで成分の分布状態や異物の評価といった課題を解決するサービスです。
これまでの「TOF-SIMS分析サービス」では、有機ELパネル積層膜のような有機材料を解析する際、材料表面に照射するイオンビームにより有機物が分解されてしまい、正しい分析結果を得ることが困難といった問題点がありました。このたび、近年ますます微細化して行く有機ELパネルの研究開発を後押しすべく、これまでの課題を解決した新機能、「GCIB(ガスクラスターイオンビーム)」を搭載しサービスをスタートしました。

<追加機能について>
「GCIB(ガスクラスターイオンビーム)」機能は、低エネルギーのイオンビームを用いることでダメージの無い深さ方向分析が可能となり、有機ELパネルに積層された有機膜の各原料が推定可能です。また、従来より深さ方向分解能も向上し、有機EL画素を狙った狭い領域でも評価します。


■新機能「GCIB(ガスクラスターイオンビーム)」概要
開始日    :2012年6月開始。分析受付中です。
深さ方向分解能:6nm(300nmの深さにおいて。従来の17nmから大幅に向上しました)
分析料金   :¥297,000
納期     :10日(分析を行う材料受領日から、速報データ提出まで)
ご利用例   :有機ELの他、積層した有機物、表面改質層に応用が可能です。


■会社概要
商号  : 一般財団法人材料科学技術振興財団
代表者 : 理事長 沖村 憲樹
所在地 : 〒157-0067 東京都世田谷区喜多見1-18-6
設立  : 1984年8月
事業内容: 材料の受託分析サービス、研究助成、学会支援等の公益事業
URL   : http://www.mst.or.jp/


【本サービスに関するお客様からのお問い合わせ先】
一般財団法人材料科学技術振興財団
Tel:03-3749-2525

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