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【東芝デバイス&ストレージ】【東芝】SiCパワーモジュールにおける並列接続チップ間の寄生発振を高速スイッチングに対応する小さなゲート抵抗で抑制可能な技術を開発

Digital PR Platform / 2024年7月26日 10時48分


図2. シミュレーションで求めたゲート抵抗ゼロにおける2並列MOSFET間の発振条件









[画像3]https://digitalpr.jp/simg/1398/92300/600_190_2024072515502566a1f5b1deb62.jpg


Vgs: ゲートソース間電圧、Vds: ドレインソース間電圧、Id: ドレイン電流



[画像4]https://digitalpr.jp/simg/1398/92300/500_182_2024072515502566a1f5b10b16c.jpg


図3. 試作モジュールのスイッチング波形とスイッチング損失(当社調べ)





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