アドバンテスト、EV/HV車載IC試験に適した「T2000」新モジュール2種を発表

マイナビニュース / 2017年12月8日 8時52分

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アドバンテストは、「T2000 IPS(Integrated Power Device Test Solution)」へ新たに2種類のモジュール「MMXHE (Multi-function MiXed High Voltage)」と「MFHPE (Multi-function Floating High Power)」を追加し、EVやHVなどのパワートレインに使用される高電圧、高電流デバイスが試験可能になったことを発表した。

新モジュール「MMXHE」と「MFHPE」は、出力ピンをそれぞれ64outと36out持っており、テスト効率の最適化とテストコストの削減を実現している。また、各ピンが複数の測定能力を持つことで、ロードボード上に載せるリレーの数を減らすことができる。

これらのモジュールは、300Vレンジの電圧測定や100μVの高精度測定を提供でき、電動化されつつある自動車で使われる駆動IC、制御IC、センサICなどを試験するのに最適となっている。また、モジュールのリソースを直列や並列に組みあわせることで、 顧客が希望する電圧値または電流値を得ることが可能。この多様性により、幅広く進化する試験要求に追従することができ、「T2000 IPS」を長期に利用可能となる。

また、「T2000 IPS」には、PMU(Parametric Measurement Unit)、高電圧デジタル機能、差動電圧、時間測定、Iddq試験、任意波形発生器/デジタイザ機能などを高精度で試験する能力が備わっており、これらの機能を全てのピンが持っているため、高機能化するデバイスに対し最適な試験を実行できるという。

なお、この「T2000 IPS」新モジュールは、12月13日〜15日に東京ビッグサイトで行われる展示会「SEMICON Japan」に展示される予定となっている。
(早川厚志)

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