パイオニア 「インフラ検査・維持管理展」に出展

PR TIMES / 2014年11月10日 11時19分

 パイオニアは、2014年11月12日(水)~14日(金)に東京ビッグサイトで開催される「インフラ検査・維持管理展」に出展します。「インフラ検査・維持管理展」は、道路・橋梁・トンネルなどのインフラの点検・診断、補修技術に関する機器及びサービスを一堂に展示する総合展示会です。

 当社は、光と電波の両方の特性を持つテラヘルツ波を利用して、物体内部の透過イメージングを簡単に行える3種類のテラヘルツスキャナーや、物体の成分・材質の判別が行える小型のハイパースペクトルカメラなどを参考展示します。また、同ブースにて、グループ会社であるグローバル・サーベイ株式会社が、道路環境計測に関する技術・システムの紹介と各種調査データの展示を行います。

【 会期 】 2014年11月12日(水)~14日(金)
【 場所 】 東京ビッグサイト
【 HP 】 http://www.jma.or.jp/next/outline/infra/
【 パイオニアブース 】 西1Fホール/1R-20

【主な出展内容】 
■ ヘッドスキャン型テラヘルツスキャナー
 光励起(れいき)方式のテラヘルツ発生素子を用い、さまざまな測定対象物の内部を簡単に透過イメージングできるヘッドスキャン型テラヘルツスキャナーです。物体の奥行き方向の計測が可能なテラヘルツパルスエコー方式を採用したヘッド部を、専用のスキャンメカニズムに搭載することで、安定したエコーデータの収集が可能となり、物体内部の透視像を3次元的に得ることができるほか、積層された物体の断面形状の観察が可能です。封筒やかばん内部に隠された危険物の透視などのセキュリティー用途や、塗装/薄膜の厚み計測、壁や構造物の欠陥/欠損診断、コーティングの剥離診断などの非破壊検査用途を想定しています。

■ ハンディヘッド型テラヘルツスキャナー
 光励起方式のテラヘルツ発生素子を用い、さまざまな測定対象物の内部を簡単に透過イメージングできるハンディヘッド型テラヘルツスキャナーです。物体の奥行き方向の計測が可能なテラヘルツパルスエコー方式を採用し、ヘッド部を小型軽量にすることで、コーティングや塗装膜の厚み、剥離状況を非接触で簡単に計測することができます。また本体部には、新開発の光学遅延機構と励起光源をコンパクトに収納しており、バッテリー駆動も可能なので、設置形態・測定環境を選ばず、さまざまな場所で使用することができます。

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