SiCパワー半導体の課題解消へ、劣化モード評価サービス開始…OKIエンジニアリング

OKIグループの信頼性評価と環境保全の技術サービスを展開するOKIエンジニアリング（OEG）は、9月26日からSiCパワー半導体固有の劣化モードを評価する「AC-BTI試験サービス」を開始する。

SiCパワー半導体は、EVや産業機器などの電力制御・変換用途に広く使用されており、従来のSi（シリコン）パワー半導体よりも優れた高耐圧、低損失の特性を持つ。しかし、SiCパワー半導体にはAC-BTIという固有の劣化モードがあり、長期間のスイッチング動作によってしきい値電圧が変動する課題があった。

OEGは、信頼性試験に関する国際規格に準拠した評価装置を開発し、このAC-BTI試験サービスを提供する。このサービスは、温度やストレス印加条件などを細かく調整でき、同時に最大48検体を連続試験可能なため、短納期で再現性の高い試験が実施できる。

OEGの新サービスは、SiCパワー半導体メーカーやそれを使用して製品を設計する企業に提供され、デバイス開発やデバイス選定、製品設計を支援する。これにより、SiCパワー半導体のより安心な利用拡大に貢献し、カーボンニュートラルの達成に寄与することが見込まれている。

OEGはこのサービスにより、2026年度に年間売上1億円の達成を目指している。今後もSiCパワー半導体向け信頼性試験・評価・解析メニューのラインアップを拡充し、広範囲なサービス提供を通じてカーボンニュートラルの達成に貢献していく。