少ない画像データで「欠陥品」を高精度に判別、オムロンが製造業向けにAIの新技術

ITmedia NEWS / 2019年11月14日 8時17分

オムロンは11月13日、製造業の現場が抱える課題解決に向け、2つのAI技術を開発したと発表した。工場の生産ラインで行う外観検査を自動化する画像認識技術「欠陥抽出AI」と、機械学習モデル同士を統合させてAIの精度を高める独自技術「DecentralizedX」だ。欠陥抽出AIは同社の画像処理システム「FHシリーズ」に搭載して提供する。2020年春に発売する予定だ。 ●傷の検査に特化、

記事の有効期限が切れています。

トピックスRSS

ランキング