OKI、製品品質向上のための信頼性評価と解析セミナー［オンライン］開催

実装基板・電子部品の設計・開発者、品質担当者必見！　～部品選定時の信頼性試験と評価・解析方法を解説～

2月10日にOKIエンジニアリング主催「製品品質向上のための信頼性評価と解析セミナー」をオンライン(Zoom)で開催いたします。電子機器品質向上のための信頼性試験として、前半は電子部品のスクリーニング・特性選別、さらに電子部品単体の健全性評価（良品解析）をご紹介します。後半は、はんだ接合部の寿命予測、不具合が発生
した実装基板状態の非破壊解析事例、高濃度でのシロキサン環境検証実験について紹介していきます。
産業工作、電子部品・半導体、自動車・車載、医療機器等の研究・開発・設計・製造に携わる方々のご参加を心よりお待ちしております。

【開催概要】
主催：沖エンジニアリング株式会社（https://www.oeg.co.jp/）
日時：2021年2月10日（水） 13時00分～17時40分
参加費：20,000円＋税／1名（テキスト付）
定員：50名
→　セミナーの詳細はこちら
<https://www.oeg.co.jp/Exhibition/guide85.html>
→　セミナーのお申込みはこちら
<https://www.oki.com/cgi-bin/inquiryForm.cgi?p=k119>

【セミナープログラム】
13:10～14:00
「電子部品のスクリーニング・特性選別」
～スクリーニング概要および市場流通品に対する評価事例～
電子機器・電子部品において、信頼性確保のために必須となるのが信頼性試験である。市場での初期不良を低減する目的である「スクリーニング」や「特性選別」に関して、宇宙防衛の規格から、市場流通品の評価事例について紹介する。
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14:00～14:10　休憩
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14:10～15:00
「製品開発のための部品選定評価方法」
～実践的な信頼性評価「LSIプロセス診断法」の解説～
電子機器に搭載される電子部品の中で、LSIは製品品質を左右するため非常に重要な部品である。このため、部品選定を行う上で指標が求められており、正常に動作するLSIを解析し、将来故障に至る危険性を推測する技術である「良品解析」が注目されている。この良品解析において、LSIデバイス向けに当社独自の検査項目を設定したものが「LSIプロセス診断法」である。この「LSIプロセス診断法」の解説と評価事例について紹介する。
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15:00～15:10　休憩
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15:10～16:00
「実装基板のはんだ接合部の劣化評価」
～熱疲労によるはんだ接合部の寿命予測～
実装基板と電子部品等の接続には現在、RoHS改正により主にPbフリーはんだが使用されている。この電子機器のはんだ接続部が劣化することにより、接続信頼性が失われると機器の故障に至る危険性があるため、非常に重要な要素である。本セミナーでは、熱疲労による寿命予測（コフィン・マンソン則）によるはんだ接合部の劣化評価条件および評価方法について事例を踏まえて紹介する。
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16:00～16:10　休憩
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16:10～17:00
「製品事故を繰り返さないための故障解析」
～非破壊解析装置を組み合わせた解析事例～
故障解析では、故障の要因を失わないために、慎重に解析することが要求される。そのため、物理解析を実施する前に、非破壊で故障部位の絞込みと故障要因の特定を行うことが非常に重要で高い解析技術を要求される。本セミナーでは、非破壊による故障部位の特定を踏まえた効率的な故障解析方法について事例を踏まえて紹介する。
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17:00～17:10　休憩
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17:10～17:40
「電子機器の電気接点付近で起こる接触不良の原因は…」
～シロキサンによる接点障害の解析、高濃度でのシロキサン環境検証実験～
低分子シロキサンが電子部品などに及ぼす接点障害は、30年以上前から報告されている。しかし、接着剤などの新たな電子部品材料の使用や、パッケージの小型・軽量化などに加え、技術の継承が不十分で、未検証の不適切な材料採用などが要因となり、近年、シロキサン関連障害が増加傾向にある。シロキサンによる接点障害の発生は、設置雰囲気中のシロキサン濃度に大きく依存するといえる。しかし、シリコーンガス発生源が存在する環境での低分子シロキサンによる接点障害は、高濃度でのシロキサン環境下では発生しにくいといった事例もあり、そのデータを示す文献はあまり見られない。本セミナーでは、当社で実施した高濃度環境での検証実験結果を公開する。本データは、シロキサン暴露試験の有効なデータになると考えられる。さらに、検証実験以外のシロキサン解析事例も紹介する。

※講演タイトルは都合により変更する場合があります。予めご了承下さい。
→　参加ご希望の方は、下記のURLよりお申し込み下さい。
<https://www.oki.com/cgi-bin/inquiryForm.cgi?p=k119>
→　セミナーの詳細はこちら
<https://www.oeg.co.jp/Exhibition/guide85.html>

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