メンター・グラフィックス、MicReD Power Tester 1500A発表、パワーサイクリング試験と熱解析によりパワーエレクトロニクスのライフサイクル性能を評価

PR TIMES / 2014年5月13日 10時22分

メンター・グラフィックス・コーポレーション(本社: 米国オレゴン州、以下メンター・グラフィックス)は、電子部品のパワーサイクリング試験と熱解析によって製品ライフサイクル全体を通じた性能をシミュレーション、測定する新製品、MicReD(R) Power Tester 1500Aを発表しました。



MicReD Power Tester 1500Aは、ハイブリッド車、電気自動車(EV)、鉄道などの自動車や運輸産業に加えて、発電機、変換器、風力発電タービンを含む再生可能エネルギー産業でも普及が拡大している、パワーエレクトロニクスの信頼性を試験します。同製品は、パワーサイクリング試験と、構造関数解析による過渡熱測定を組み合わせ、劣化原因診断のデータをリアルタイムに供給する、業界唯一の試験機です。

パワーエレクトロニクスは、電気エネルギーの生成、変換、制御に使用され、かつ何年にもわたる常時稼働が要されることから、非常に高い信頼性が求められます。MicReD Power Tester 1500Aを用いると、産業用電子部品メーカーは、モジュールのスタックアップ内部における熱劣化を検証し、信頼性を試験できるようになります。パワーサイクリングと過渡熱測定の両方を実行するため、テスト環境から部品を取り外す必要がありません。専門家や技術者は、劣化の進行状況をリアルタイムで確認しながら、正確な時間、サイクル、原因を特定できるようになります。

信頼性は、パワーエレクトロニクスを使用する多くの業界における最大の懸念事項となっています。部品サプライヤ、システムサプライヤ、OEMには、モジュールに対する製品寿命を通じたパワーサイクリング試験の加速が切実に求められています。MicReD Power Tester 1500Aは、数万サイクルから何百万サイクルもの電力をモジュールに供給するとともに、進行中の劣化を表すデータをリアルタイムで診断に活用するため、テストとラボによる診断期間を大幅に短縮し、事後解析や破壊故障解析を実行する必要がありません。ダイアタッチのワイヤボンディングの剥離、ダイとパッケージスタックアップの劣化や亀裂、はんだの熱疲労といった、熱によって誘発される一般的な機械的故障をリアルタイムで解析します。

「半導体デバイスにおける伝熱スタックの劣化を開発段階に正確に特定し、定量化できるMicReD Power Tester 1500Aの機能のおかげで、これまではパッケージの信頼性が懸念されて成し得なかった開発コストの最適化を図ることができました。MicReD Power Tester 1500Aはあらゆるパワー半導体モジュールの熱経路劣化を診断できる貴重なツールと言えるでしょう。」ノッティンガム大学の工学部において高度電力変換技術の教授を務めるMark Johnson氏は、上記のように述べています。

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